InAs(001)吸附表面的不可逆重构相变研究

2014-02-19 郭 祥 贵州大学电信学院

  对吸附了大量As的InAs(001)样品进行升降温热处理,发现在485e时表面有从(3×1)重构到(2×4)重构的不可逆转变现象。利用扫描隧道显微镜对(3×1)重构表面分析,结果表明大量常温吸附的As从表面脱附使InAs(001)(2×4)重构表面最顶层的Asdimer也一起脱离表面,(3×1)重构表面实际上是由20%的富As(2×4)重构区域与80%的富In(4×2)重构区域组成。不可逆相变是由于As束流提供的As4原子团吸附到富In区域,使样品表面恢复到(2×4)重构相,而(2×4)重构相能在390~490℃温度范围内稳定存在。

  半导体材料作为第二代半导体材料,由于其高电子迁移率、直接带隙的性质,经常被用来制作高速器件和光电子器件。随着对器件小型化以及器件性能要求的不断提高,相应的对制作器件的材料的表面有了更高的要求。因此,长期以来Ó-Õ半导体材料的表面形貌与表面重构的研究一直受到国内外的重视。GaAs作为Ó-Õ半导体材料最典型的代表,当然是研究的热点,研究人员对GaAs(001)表面重构相已经作了深入的研究与探索,特别是对富As的GaAs(001)表面的C(4×4)与B2(2×4)的高分辨表征的出现,二者的重构模型的争议已经基本消除。然而,对InAs(001)表面重构的研究报道并不多见,并且InAs(001)与GaAs(001)表面重构相以及重构相之间的转变存在着许多异。例如:InAs表面存在A2(2×4),而GaAs不存在;InAs从As终止的(2×4)表面转变为铟终止的(4×2)表面是快速的并且伴随滞回现象,而GaAs从B2(2×4)表面转变到(4×2)表面是渐变的,中间有一个过渡的(3×1)重构相。最近,关于富铟的InAs(001)表面的高分辨表征也见报道。

  本文利用反射式高能电子衍射仪(Reflection High Energy Electron Diffraction,RHEED)对InAs(001)吸附表面进行观测,发现表面(3×1)与(2×4)重构之间存在不可逆的相变过程。利用扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,STM)对表面进行分析,表明此相变现象与表面所吸附的As原子团的脱附过程相关。

1、实验

  本实验在Omicron超高真空(极限真空可达5.32×10-9 Pa)的分子束外延(MolecularBeamEp-itaxy,MBE)设备中进行,衬底为AXT可直接外延InAs(001)外延片。通过MBE方法制备好表面原子级平坦的InAs(001)样品,将样品置于常温下真空度约为2.66×10-9 Pa的MBE真空室中24h。对样品缓慢升温(10e/min)至400℃,并在样品温度到达400℃时逐步开启As束流(达到6162×10-4 Pa并保持不变)保护样品表面,然后继续缓慢升温(每次升温5~10℃,升温后停留5min)至500℃,最后缓慢降温至室温,整个过程均使用RHEED实时监测并记录。通过以上途径选择在升温到475℃,得到稳定的(3×1)重构后淬火至室温,并将样品传送至与MBE生长室相接的超高真空STM扫描室进行分析。

2、结果与讨论

2.1、RHEED分析表面相变过程

  放置于真空室中的样品为生长退火处理完成后,淬火至室温的InAs(001)样品,放置的时间从淬火到室温开始计算。放置之前的样品表面通过RHEED与STM的表征,其结果说明样品的表面原子级平坦且为非常清洁的表面。如图1所示,(a)RHEED衍射图清晰地显示表面呈(2×4)重构,(b)为表面1000nm×1000nm的STM扫描图,单层台阶宽度超过200nm,(c)为表面50nm×50nm的STM扫描图,可以分辨出二聚体排(Dimerrow)沿着[110]晶向,表面被B2(2×4)与A2(2×4)重构占据,表面有一些非周期性的占据沟道和Dimerrow顶部的缺陷存在(STM图中的亮点结构),这些缺陷由退火温度与As束流量大小决定,并不是淬火过程和传送过程中吸附到表面的原子造成的。

InAs(001)吸附表面的不可逆重构相变研究

图1 InAs表面(a)RHEED衍射图,(b)1000nm×1000nm的填充态STM扫描图,(c)50nm×50nm的填充态STM扫描图

3、结论

  在升温过程中,大量在常温下吸附的As原子团的脱附,使InAs(001)(2×4)重构表面最顶层的As原子也随着脱附,类似最顶层的原子被/有粘性0的As原子团/粘附0而一起脱附,并且最顶层As脱附后的表面能维持稳定的(3×1)重构,直到温度升高到485℃才开始不可逆的相变。这种现象在GaAs(001)(2×4)重构表面并未发现,说明InAs(001)表面最顶层的Asdimer与其下层的In原子结合能弱于GaAs。InAs(001)富金属表面除了能在高温低As压条件下使最顶层As原子脱附而得到外,在较低温条件下,通过脱附常温下吸附的As也能得到80%表面为富金属区域的(3×1)重构表面。